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RoHs荧光分析仪
RoHs荧光分析仪 添加时间:2018/4/9
产品详情
基本信息
品牌: 3DFAMILY 型号 ValidatorⅢ 操作方式: 自动
功能: 检测、观察、分析
产品介绍
   第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪,采用世界上最先进的硅SIPIN探测器(分辨率为150ev),实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管,最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距,从而在较低的电压下达到同样的激发效率,同时减少了漫射光的干扰,大大地提高了灵敏度和读数的准确性,重复性。
产品特点
1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出最具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。
4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素
的含量较高(能量也会相应的较高),其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
技术参数
 
分析原理
能量色散X射线荧光分析法
分析元素
Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)
Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)
检出下限
Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
样品形状
最大460×380mm(高150mm)
样品
塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
样品室气氛
大气
X射线管
靶材
Rh
管电压
最大50KV
管电流
最大1mA
X射线照射径
1/3/5mm
防护
<0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕)
检测器
硅SIPIN探测器
光学图像观察
倍率15倍
软件
定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)
照射径:1/3/5mm
定量分析:基础参数法/标准法/1点校正
计算机
CPU
PentiumIV1.8GHz以上
内存
256MB以上
硬盘
20GB以上
OS
WindowXP
监视器
17寸LCD
周围温度
10~35C(性能温度)/5~40C(动作温度)
周围湿度
5~31C时温度范围:最大相对湿度80%以下 /31~40C时温度范围:相对湿度50%以下
电源
AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗电力
1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机)
设备重量
约65kg(不含桌子、计算机)
外形寸法
600(W)×545(D)×435(H)mm
应用领域
家电、电子、玩具、休闲和运动设备、自动售货机等