产品介绍

   XLE-2型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为：正置式、三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储、查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。

产品特点

1、放大倍数：40倍至500倍；
2、超大型载物台，样品可作大范围的纵、横方向快速移动，扩大检测领域的使用范围。 
3、可以与OVM-TM软件搭配使用。

技术参数

　

应用领域

广泛应用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。