产品介绍

   第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪，采用世界上最先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高了灵敏度和读数的准确性，重复性。

产品特点

1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素
的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

技术参数

　

分析原理			能量色散X射线荧光分析法
分析元素			Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
			Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）
检出下限			Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
样品形状			最大460×380mm(高150mm)
样品			塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
样品室气氛			大气
X射线管	靶材		Rh
	管电压		最大50KV
	管电流		最大1mA
X射线照射径			1/3/5mm
防护			＜0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）
检测器			硅SIPIN探测器
光学图像观察			倍率15倍
软件			定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）
			照射径：1/3/5mm
			定量分析：基础参数法/标准法/1点校正
计算机		CPU	PentiumIV1.8GHz以上
		内存	256MB以上
		硬盘	20GB以上
		OS	WindowXP
监视器			17寸LCD
周围温度			10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度）
周围湿度			5～31。C时温度范围：最大相对湿度80%以下 /31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下
电源			AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗电力			1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机）
设备重量			约65kg(不含桌子、计算机）
外形寸法			600（W）×545（D）×435（H）mm

应用领域

家电、电子、玩具、休闲和运动设备、自动售货机等